Advances in X-Ray Analysis
Volume 35B
(Sprache: Englisch)
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Produktinformationen zu „Advances in X-Ray Analysis “
Inhaltsverzeichnis zu „Advances in X-Ray Analysis “
Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.
Bibliographische Angaben
- 2012, Softcover reprint of the original 1st ed. 1992, IV, 641 Seiten, Maße: 17 x 24,4 cm, Kartoniert (TB), Englisch
- Herausgegeben: Charles S. Barrett, John V. Gilfrich, Ting C. Huang, Ron Jenkins, G. J. McCarthy, Paul K. Predecki, R. Ryon, Deane K. Smith
- Verlag: Springer, Berlin
- ISBN-10: 1461365325
- ISBN-13: 9781461365327
Sprache:
Englisch
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